沒有標識的貼片電容要怎麽(me) 估算它的容量，怎麽(me) 進行檢測以及怎樣應用代換呢?

　　一、如何對無標識貼片電容的容量估算

　　1)用於(yu) 開關(guan) 電源電路的供電輸出端及IC電路的供電輸入端的貼片電容。如下圖：

　　在供電輸出端，與(yu) (濾波)電解電容並聯在一起。因電解電容係導電極板和絕緣介質卷繞在一起，具有“電感效應”，高頻濾波效果差。並聯小容量電容，濾除整流後的高頻紋波成分。電路中IC的供電端，也都加有高頻濾波電容，以吸收(可能存在由引線形成的寄生電感或由某種幹擾帶來的)電源擾動。此類電容的電容量一般為(wei) 0.01~0.1μF左右。該類電容對容量要求並不嚴(yan) 格，故障率也比較低。如檢查發現有損壞，換用0.01~0.1μF範圍內(nei) 的電容都是可以的。

　　2)信號通路中的低通濾波器用到的貼片電容。低通濾波器電路，用於(yu) 對信號中的某一頻段內(nei) 的高頻成分進行衰減和吸收，隻要求其中的信號中的低頻成分(甚至直流成分)通過。變頻器的信號傳(chuan) 輸通路中，多用於(yu) 將脈動直流信號經RC電路轉化成直流信號，因而該電路中的電容量大致在0.01~0.47μF左右，因為(wei) 電阻R的作用，雖然電容量較小，但RC總的時間常數並不小，也能達到較好的濾波效果。如不好確認容量大小，可以用0.01~0.47μF以內(nei) 容量的電容試驗，以經RC濾波後無明顯脈衝(chong) 動成分為(wei) 宜。

　　3)具有特定容量的貼片電容。如MCU晶振引腳的補償(chang) 電容，其容量與(yu) MCU類型和晶振頻率相關(guan) ，可由MCU的相關(guan) 資料，和晶振元件的標注頻率值，確定該電容的容量，一般為(wei) 33PF或22PF、15PF。

　　二、貼片電容的損壞現象和檢測方法：

　　a、同一類型的電容，個(ge) 頭越大或顏色越深，容量也越大。電容的容量可以用專(zhuan) 用的電容測試儀(yi) 來測定，目前一些數字萬(wan) 用表，也附加此項功能。測電容量時，須將貼片電容至少脫開一端，排除外電路的影響後，再行檢測。

　　b、用萬(wan) 用表檢測。如果在線檢測，萬(wan) 用表測量得出電容兩(liang) 引腳之間的的電阻值，其實是與(yu) 電容相連接的外電路“綜合電阻值”，若電容處於(yu) 短路或近於(yu) 短路情況(電阻值極低)下，才能有所反映。將電容器脫開塬電路，測量其電阻值應為(wei) 無窮大。用指針表的×10k擋測量時，0.1μF左右的電容指針有跳動(充電)現象，靜止後歸於(yu) 無窮大。若測得固定電阻值，說明電容損壞。

　　c、上電檢測，由電路判斷該點電壓低落，可能是電容漏電引起，見下圖電路示例。這也是一個(ge) 比較好的方法。

　　如下圖6所示電路中，測量a點電壓正常值應為(wei) R221、R22對3V供電的分壓值1.5V，若測量電壓值高於(yu) 1.5V，可能係電容C112漏電損壞所致;測b點電壓正常值應為(wei) 3V，若低於(yu) 3V，可能係電容C56漏電損壞所致。

　　電壓漏電引起A點電壓降低進一步可將C112或C56焊脫電路，對其引腳電阻值進行測量驗證。當貼片電容損壞時，也同確定貼片電阻的阻值一樣，可參考同類電路，測出好的電容元件的電容量，來確定故障電容的參數。如晶振引腳電容壞掉一隻，測另一腳電容元件的電容量即可，兩(liang) 隻電容的容量是一樣的。

　　三、故障電容的代換

　　貼片電容的故障率較低，各種規格的貼片電容都要備件，顯然不是現實的。偶爾發現損壞元件時，用普通的同容量瓷片或絛綸電容來代換，是完全可以的，注意引線盡量要短，焊接質量要好。

　　深圳市昂洋科技是擁有十多年的批發代理、生產(chan) 、銷售電容器，電感器，電阻器等產(chan) 品的綜合供應商;主要經營的產(chan) 品有貼片電容，合金電阻，貼片電阻，二叁極管，功率電感，高頻電感，磁珠類市麵主流的電子元器件，合作的品牌有村田、叁星、國巨、TDK、風華等國際大型知名品牌，廠家直接進貨，提供技術支持，對產(chan) 品品質嚴(yan) 格把控，歡迎您谘詢與(yu) 合作。