貼片電容為(wei) 什麽(me) 要進行老化處理?貼片電容器的容量隨時間以對數規律降低(之稱之為(wei) 老化)。然而，如果貼片電容器發熱溫度高於(yu) 其介質的居裏點時，此時產(chan) 生“去老化”現象，即通過老化發生的容量降低重新恢複，當電容器恢複冷卻時，老化又隨時間產(chan) 生。

　　貼片電容器去老化條件：將貼片電容器放在上限類別溫度或按詳細規範中可能規定的更高溫度(150℃)下經1h 後，接著在試驗的標準大氣條件下恢複24±1h。

　　根據各類材質隨時間衰減係數見以下曲線圖：

　　貼片電容測試條件：

項目 Item	技術規格 Technical Specification	測試方法 Test Method Remarks
容量 Capacitance	Ⅰ類 ClassⅠ (COG/NPO)	應符合指定的誤差級別 Should be within the specified toleance	標稱容量 Capacitance	測試頻率 Measuring Frequency	測試電壓 Measuring Voltage
			≤1000PF	1MHz±10%	1.0V±0.2V
			>1000PF	1KHz±10%	1.0V±0.2V
	Ⅱ類 Class Ⅱ	應符合指定的誤差級別 Should be within the specified toleance	C≤10uF     測試頻率：1KHz±10%      1.0V±0.2V Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V C>10uF       X7R X5R Y5V 測試頻率：120Hz±24Hz     0.5V±0.05V Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V
測試溫濕度：25±5℃ 50%-70%

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